System dynamicznego ustawiania ostrości 3D
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR30-F
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 1064nm
Protokół XY2-100
wersja do znakowania zakrzywionych powierzchni i wersja do znakowania dużych pól dla opcji
obróbka dużych pól roboczych z małą plamką
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR30-C
3-osiowe jednostki odchylające
długość fali wsparcia: 10640nm, 10200nm, 9400nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 300*300mm do 1600*1600mm
obróbka dużych pól roboczych z małą plamką
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D FR20-F
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 1064nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm do 600*600mm
Znakowanie dużego pola, znakowanie 3D, trawienie zakrzywionej powierzchni, znakowanie PCB
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR70-C
3-osiowe jednostki odchylające
długość fali wsparcia: 10640nm, 10200nm, 9400nm
Protokół XY2-100
obróbka dużych pól roboczych z małą plamką
wysokiej klasy aplikacja branżowa, super wydajność
maksymalne pole robocze 2000*2000mm
0,12 @ 3508350 mm @ 10640 nm
0,64@2000x2000mm@10640nm
znakowanie bardzo dużego obszaru
rolka do rolki znakowanie skóry
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR40-F
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 1064nm
Protokół XY2-100
obróbka dużych pól roboczych z małą plamką
W porównaniu do FR30-F, jakość ogniskowej lepsza o 30%.
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR40-C
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 10640nm.10200nm, 9400nm
Protokół XY2-100
wersja do znakowania zakrzywionych powierzchni i wersja do znakowania dużych pól dla opcji
obróbka dużych pól roboczych z małą plamką
Prędkość równa FR30-C, jakość ogniskowej lepsza o 30%.
filmowanie laserowe, sztancowanie
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR20-U
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 355nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm do 600*600mm
Znakowanie dużego pola, znakowanie 3D, trawienie zakrzywionej powierzchni, precyzyjne znakowanie
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR20-G
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 532nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm do 600*600mm
Znakowanie dużego pola, znakowanie 3D, trawienie zakrzywionej powierzchni, precyzyjne znakowanie
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D FR15-F
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 1064nm
Protokół XY2-100
Druk 3D, produkcja przyrostowa
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D 一FR10-U
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 355nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm do 600*600mm
Znakowanie dużego pola, znakowanie 3D, trawienie zakrzywionej powierzchni, znakowanie PCB
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D – FR10-G
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 532nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm do 600*600mm
Znakowanie dużego pola, znakowanie 3D, trawienie zakrzywionej powierzchni
-
System dynamicznego ustawiania ostrości 3D 一FR10-F
3-osiowe jednostki odchylające
Długość fali wsparcia: 1064nm
Protokół XY2-100
pole robocze: 100*100mm i 200*200mm
znakowanie laserem światłowodowym, grawerowanie laserowe 3D, trawienie laserowe