2D Scanhead-30 Serial
30 seeria
Kõrge positsioneerimise täpsus.
Keevituspea.
Vesijahutus.
Positiivse rõhuga õõnsuse disain.
Rakenduse video
Toote tehniline teave
| Optilised spetsifikatsioonid | Suurus (mm) | 30 | |||
| sisendtala läbimõõt (mm) | 30 | ||||
| Saadaval lainepikkus (nm) | 355 | 980 | 1064 | 10640/9400 | |
| Optiline parameeter | optiline pind | 1/4入@633 | |||
| optiline materjal | Si / SiC | ||||
| Galvanomeetri spetsifikatsioonid | Kaal (KG) | 6 | |||
| Suurus (mm) | 199x145x142 | ||||
| Versioon | S30 | SH30 | SH30 P2 | ||
| Skaneerimisnurk (°) | ±11 | ±11 | ±10 | ||
| Korratavus (μrad) | 8 | 8 | 5 | ||
| Maksimaalne võimenduse triiv (ppm/k) | 150 | 100 | 50 | ||
| Maksimaalne nihke triiv (μrad/k) | 50 | 30 | 15 | ||
| Pikaajaline triiv üle 8 tunni (mrad) | ≤0,3 | ≤0,15 | ≤0,1 | ||
| Jälgimisviga (ms) | <440 | <440 | <440 | ||
| Samm-reageerimisaeg 1% täisskaalast1 | <880 | <880 | <880 | ||
| Tüüpiline märgistuskiirus2 | 2 | 2 | 2 | ||
| Tüüpiline positsioneerimiskiirus2 | 8 | 8 | 8 | ||
| Tüüpiline märgimärgistus3 | 350 CPSHea kvaliteet | 350 CPSHea kvaliteet | 350 CPSHea kvaliteet | ||
| 450 CPSHea Kirjutamine | 450 CPSHea Kirjutamine | 450 CPSHea Kirjutamine | |||
1) 1% astmeline reaktsioon 2) 2D skannimispea kasutab F160 F-θ objektiivi 3) F160 F-θ objektiiv, 1 mm kõrguse üherealine märk, LenMarki tarkvara ja FEELTEKi juhtkaart
Mehaaniline joonis
KKK-d
Garantiiaeg on 12 kuud alates tarnekuupäevast.
Garantii alla ei kuulu optika, tehislik või tahtlik kahjustamine.
FEELTEK on pühendunud 3D laserdünaamilise fookuse tehnoloogiale ja panustanud lasermasinate integraatoritesse kogu maailmas.Täiustatud lasertehnoloogia avastajana praktiseerib FEELTEK aktiivselt ka ettevõtte sotsiaalset vastutust.
Igal aastal osaleb FEELTEK ettevõtte sotsiaalse programmi raames teadusbüroo algatatud teadusüritusel kohalikus võõrkeelte koolis.Levitame lasertehnoloogiat 9–12-aastastele teismelistele. 5G-laiendustooted, 3D-printimine ja muud kaasaegsed teadus- ja tehnoloogiarakendused on valgustanud noorte unistust teadusest ja tehnoloogiast.
